抗静电添加剂用纳米氧化锡
来源 苏州优锆
作者 佚名
日期 2022-06-13
浏览 1984
UG-S20;UG-S50
纯 度:光谱法分析测试杂质含量。
晶粒度:X―衍射(XRD)线宽化法平均晶粒的测定。
颗粒度:GB/T13221纳米粉末粒度分布的测定 X射线小角度散射法;GB/T13390粉末比表面的测定―氮吸附法(BET):透射电镜(TEM)观察。
比表面积:GB/T13390粉末比表面的测定―氮吸附法(BET)。
参数指标:
品名 纳米二氧化锡
平均粒径 20nm 50nm
纯度 99.8%
比表面积 50m2/g 15m2/g
主要用途:
①化工原料,ITO等半导体电子工业材料,
②陶瓷釉料的遮光剂、乳浊剂、着色剂,气敏元件材料,
③导电陶瓷及电极材料,抗菌材料,低辐射玻璃,抗静电材料,有机合成催化剂,锡盐,织物媒染剂和增重剂,钢和玻璃的磨光剂等。
④银锡触头材料。银氧化锡触头材料是近年发展迅速的新型环保电触头材料,是替代传统银氧化镉触头的理想材料;
⑤塑料和建筑行业的抗静电添加剂;
⑥用于平板和CRT(阴极射线管)显示的透明导电材料;
⑦电工及电子元件;
⑧用于熔炼特种玻璃的氧化锡电极 ;
⑨用于光催化抗菌材料等。
资讯来源:苏州优锆
纯 度:光谱法分析测试杂质含量。
晶粒度:X―衍射(XRD)线宽化法平均晶粒的测定。
颗粒度:GB/T13221纳米粉末粒度分布的测定 X射线小角度散射法;GB/T13390粉末比表面的测定―氮吸附法(BET):透射电镜(TEM)观察。
比表面积:GB/T13390粉末比表面的测定―氮吸附法(BET)。
参数指标:
品名 纳米二氧化锡
平均粒径 20nm 50nm
纯度 99.8%
比表面积 50m2/g 15m2/g
主要用途:
①化工原料,ITO等半导体电子工业材料,
②陶瓷釉料的遮光剂、乳浊剂、着色剂,气敏元件材料,
③导电陶瓷及电极材料,抗菌材料,低辐射玻璃,抗静电材料,有机合成催化剂,锡盐,织物媒染剂和增重剂,钢和玻璃的磨光剂等。
④银锡触头材料。银氧化锡触头材料是近年发展迅速的新型环保电触头材料,是替代传统银氧化镉触头的理想材料;
⑤塑料和建筑行业的抗静电添加剂;
⑥用于平板和CRT(阴极射线管)显示的透明导电材料;
⑦电工及电子元件;
⑧用于熔炼特种玻璃的氧化锡电极 ;
⑨用于光催化抗菌材料等。
资讯来源:苏州优锆
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