LB-8100A多功能推拉力测试机,半导体芯片封装检测设备

1、推力测试：通过左右摇杆将测试头移动至所测试产品后上方，按测试后，Z 轴自动向下移动，当测试针头触至测试基板表面后，Z 向触发信号启动，停止下降，Z 轴向上升至设定的剪切高度后停止。Y 轴按软件设定参数移动，当移动完成设定距离参数后，设备停止运动，软件将测试过程中的受力过程以曲线方式显示，同时将过程中峰值力值进行数据分析后显示并保存。
2、拉力测试：通过左右摇杆将拉力测试头 移动至测试物体按测试后，Z 轴自动向上移动，当移动完成设定距离参数后，设备停止运动，软件将测试过程中的受力分布以曲线方式显示，同时将过程中峰值力值进行数据分析后显示并保存。

★所有传感器采用高速动态传感及高速数据采集系统，确保测试数据的准确无误。
★采用公司独特研发的高分辨率（24BitPlus超高分辨率）的数据采集系统。
★运动核心部件均采用进口知名厂商，确保设备长久运行。
★采用公司独有的安全限位及安全限速技术，让操作得手应手。
★采用公司独有的智能灯光控制与调节系统，减少光源对视力的损伤。
★标配高清观察显微镜，减少人员视觉疲劳。
★双摇杆四向操作及人性化的软件配置使操作简单、方便。
★坚固的机身设计、适用与500KG的力值测试。
★结合人体学的独特设计，让使用更加舒适。
★设备全方位的保护措施，避免因人员误操作对设备的损坏。
★强大的研发实力，根据客户的需求提供订制化产品。
★贴心的售后服务，让使用人员无后顾之优。
1、测试量程： 晶片推力 5KG，综合测试精度 ±0.1%;(可根据客户需要配置不同量程传感器)
金球推力500G，综合测试精度 ±0.1%;(可根据客户需要配置不同量程传感器)
金线拉力100G，综合测试精度 ±0.1%;(可根据客户需要配置不同量程传感器)
2、X 工作台： 有效行程 80mm;分辩率 ± 0.002mm
3、Y 工作台： 有效行程 80mm;分辩率 ±0.002mm
4、Z 工作台： 有效行程 100mm;分辩率 ± 0.001mm
5、平台夹具： 平台可共用各种夹具，夹具可 360 度旋转
6、运动平台： 四向运动平台，采用进口传动部件，确保机台高速、长久稳定运行
7、控制操作： 双摇杆控制机器四向运动，操作简单快捷
8、操作系统： 机器自带电脑，windows 操作系统，软件操作简单，所有测试数据及测试曲线可实时实保存与导出。
9、外观尺寸： 长 570mm*宽 400mm*高 670mm。
10、电源： 220V±5% 供气源：0.4-0.6MPA
11、功率： 300W(max)

黄小姐18173577306
深圳市龙华区大浪街道华荣路416号鸿富工业园C栋2层