微焦点X-RAY半导体检测仪器 芯片X-RAY微焦检测系统

微焦点X-RAY半导体检测仪器 芯片检测

X-RAY微焦检测系统

XDR-1600W X射线检测系统应用于封装电子组件、贴片元器件和芯片的高分辨率检测。

该机型采用了微焦点X射线管和高分辨率成像系统，能满足航天、航海、电子制造、生物研宄等领域内的检测应用的要求。

技术参数：

出厂：

ANZHU

型号：

XDR-AZ1600W；

数字成像视场:

160x130mm（不同面积可订制)

像素间距

49um（高分辨率成像系统）

A/D转换；

16/bits

几何放大倍数；

高达1000；

放大倍率；

高达2000；微焦配置；

微焦光管；

进口光管5-15um；

管电压；

40-120 kV；

管电流

0.2-1.0ma；

操作台上下间距：

200-600mm

机械操作台

左、右、前、后、上、下；

机械操作台软件

软件数控调节模似；

检测区

160x130mm(尺寸可选)

操作台承重量

10kg

操作辅助

自动/手动

图像处理软件

X射线检测图像软件，图像增、测量；

设备尺寸（长x宽x高）

1360mmx800mmx700mm

电脑系统:

windows10；联想21/25��

仪器重量:

380kg

适配器输出电压

DC24V

交流电源频率:

50-60hz；

远程控制:

远程操作软件

15301988960 徐梦菲